正弦振動試驗、寬帶隨機振動試驗、沖擊試驗、碰撞試驗、恒定加速度試驗、引出端及整體安裝件強度試驗

機械環(huán)境試驗也稱為力學環(huán)境試驗，是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間，在預期的使用、運輸、流通環(huán)境條件下，保持功能可靠性而進行的活動。紅外探測器機械環(huán)境試驗其特點表現(xiàn)為以力作用為突出特征，考核、評價產(chǎn)品在力作用下的功能可靠性、結(jié)構(gòu)完好性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力，為紅外探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的正弦振動試驗、寬帶隨機振動試驗、沖擊試驗、碰撞試驗、等機械環(huán)境試驗服務(wù)。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力，為紅外探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的正弦振動試驗、寬帶隨機振動試驗、沖擊試驗、碰撞試驗、等機械環(huán)境試驗服務(wù)。

GB/T 15430-1995 紅外探測器環(huán)境試驗方法
GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：支持文件和導則 振動試驗選擇
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fi：振動 混合模式
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合
GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-81部分：試驗方法 試驗Ei：沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成
GB/T 4937 半導體器件機械和氣候試驗方法 手持電子產(chǎn)品用元器件桌面跌落試驗方法

1、確定紅外探測器在運輸、使用過程中可能受到的正弦振動的適應(yīng)性和評價結(jié)構(gòu)完好性。
2、確定紅外探測器經(jīng)受隨機振動環(huán)境應(yīng)力的適應(yīng)性及評價結(jié)構(gòu)完好性。
3、確定紅外探測器在使用過程中承受非重復機械沖擊作用的適應(yīng)性以及（或）評定其結(jié)構(gòu)的完整性。
4、確定探測器在使用和運輸過程中承受多次重復性機械碰撞的適應(yīng)性以及評定其結(jié)構(gòu)完好性。
5、確定紅外探測器經(jīng)受恒定加速度環(huán)境應(yīng)力的適應(yīng)性及評價其結(jié)構(gòu)完好性。
6、確定引出端以及引出端與試驗樣品本體的連接及其整體安裝件經(jīng)受裝配或修理過程中可能遇到的轉(zhuǎn)矩的能力。